英国ABI集成电路测试仪,电路板故障检测仪 - 测试案例 - 北京金三航科技发展有限公司

测试案例

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F5-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败 测试元件型号:SPHE8202L-F5-OK2 测试设备:英国ABI-AT192 Test Summary Device: SPHE8202 Package: ......[详细]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F3-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败 测试元件型号:SPHE8202L-F3-OK2 测试设备:英国ABI-AT192 Test Summary Device: SPHE8202 Package: ......[详细]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F2-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败 测试元件型号:SPHE8202L-F2-OK2 测试设备:英国ABI-AT192 Test Summary Device: SPHE8202 Package: ......[详细]

某工厂芯片测试案例SPHE8202L-F1-OK2故障器件测试报告

测试时间:2012-03-29 测试结果:失败 测试元件型号:SPHE8202L-F1-OK2 测试设备:英国ABI-AT192 Test Summary Device: SPHE8202-F1-OK2 Packa......[详细]

某研究中心测试案例-LM124J故障器件测试报告

Test Summary Device: LM124J Package: 14 pin DIL narrow Scan Profile: LowVAnalogue Overall Result: FAIL Operator......[详细]

某研究中心测试案例-HM628512ALP-7故障器件测试报告

Test Summary Device: HM628512ALP-7 Package: 32 pin DIL wide Scan Profile: LowVDigital Overall Result: FAIL ......[详细]

某研究中心测试案例-CY7C1021CV33故障器件测试报告

测试时间:2012-03-22 测试结果:失败 测试元件型号:CY7C1021CV33 Test Summary Device: CY7C1021CV33 Package: 44 pin SOIC wide Sca......[详细]

某厂计量处失效元件-CD54HC14F3A测试报告

SENTRY - Chip Report Test Summary Device: 008 Package: 14 pin DIL narrow Scan Profile: LowVDigital Overall Result: FAIL ......[详细]

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554良好器件测试报告

测试时间:2011-06-30 测试结果:通过 测试元件型号:16C554 测试设备:英国ABI-AT256 16c544测试报告结果图片 st16c544管脚图 SENTRY - Chip Report Test Summar......[详细]

英国ABI-AT256测试案例-ST16C554故障器件测试报告

测试时间:2011-06-30 测试结果:失败 测试元件型号:16C554 测试设备:英国ABI-AT256 16c544故障器件测试结果图 st16c544管脚图 SENTRY - Chip Report Test Summ......[详细]