AT256 A4全品种集成电路测试仪

集成电路测试仪

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    二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

    二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)

    三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)

    功能用途:
    1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;
    2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;
    3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;
    4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;
    5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;
    6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;
    7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;
    8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

    技术规格:

    1)256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道;
    2)64/128/192/256路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道;
    3)64/128/192/256路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;
    4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;
    5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;
    6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;
    7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;
    8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;
    9)设备可以64通道为步进最大扩充到2048组测试通道。

    测试原理(V-I曲线测试):

       对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

    集成电路测试操作如此简单:
    1.从数据库选择要测试的集成电路型号.
    2.将集成电路插入测试座.
    3.执行测试
    4.得到PASS或FAIL的测试结果.

    不需要电子专业知识.
    适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.
    灵活、好安装、宜操作.
    测试结果直接: PASS或FAIL.
    软件可设定各种测试条件.
    可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

    英国ABI-AT256 A4全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:

    -双列插脚(DIL)
    -小型封装集成集成电路(SOIC)
    -小型封装(SSOP, TSOP)
    -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)
    -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)
    -球门阵列封装(BGA)

    注意: AT256 A4不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。

    三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

    三维V-I-F动态阻抗测试图
     
    AT256 A4测试报告

    电路板故障检测仪

    AT256 A1 集成电路测试仪

    AT256 A4集成电路测试仪

    二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

    二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)
    三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:64/128/192/256路(最大可扩充至2048路)

    北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心)