ChipMaster手持式数字集成电路测试仪

手持式数字集成电路测试仪

  •  ChipMaster手持式数字集成电路测试仪

     

     

    循环测试-判定间歇性故障元器件更准确

     

    采用无条件或有条件循环测试模式,能够找到间歇性故障点和由温度引起的故障,并显示单个管脚的诊断信息. 

    简介: 

    可测元器件包含TTL系列,CMOS,存储器,大规模集成电路,接口芯片以及其它多达40管脚的器件,不断扩充的多达上千种元器件库,元器件库可以自行编程扩充升级.

    特点:

     

    ·操作简单方便
    ·内置元器件库可扩充升级
    ·未知IC型号查找
    ·显示单个管脚故障诊断信息
    ·元件代换查询
    ·可选SOIC和PLCC适配座
    ·可选编程软件与PC实时通讯测试
    ·电池与直流供电
    ·可以选择不同封装的测试座

    功能:

     

    Single-对测试座上的IC进行单次测试.
    Loop-无论结果如何,重复进行测试 
    P Loop-若测试结果为PASS,重复进行测试
    F Loop-若测试结果为FAIL,重复进行测试 
    Search-识别测试座上IC的型号 
    Diags-进行自我诊断测试 
    CmLink-进入CompactLink 软件通讯模式
    Sw Off-将本仪器关机 

    专业的CompactLink编程通讯软件(选配件) 

     

    可以扩充元件库的编程软件;
    与PC实时通讯测试软件;
    允许用户根据软件增加新元器件库,并产生新的功能测试,可以满足特殊的应用;
    软件采用PremierLink IC编程(PLIP);
    高水平的测试编程描述语言;
    最佳的模拟和数字测试程序;
    可通过RS-232或者USB接口连接电脑;