英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪

AT256 A4 pro2集成电路测试仪

  •  英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪

    二维集成电路专用V-I动态阻抗端口测试通道:256路

    二维电路板专用V-I动态阻抗端口测试通道:128路(可扩充至2048路)

    三维扫频V-I-F动态阻抗端口测试通道:128路(可扩充至2048路)
     

    功能用途:

    1)集成电路的来料质量控制检测与筛选、一致性检测;

    2)快速筛选假冒、仿制集成电路及元器件;

    3)对不良器件进行三维动态阻抗失效分析;

    4)非加电条件下对集成电路、电路板进行全面的端口动态阻抗测试分析;

    5)快速准确定位失效集成电路故障管脚,高效查找故障电路板的失效I/O管脚;

    6)测试安全可靠,全面解决器件工艺、电路板工艺问题,快速解决集成电路及电路板故障点定位问题;

    7)进行集成电路和电路板阻抗一致性检测;

    8)配合专用测控平台软件,实现集成电路、电路板定制化和自定义编程测试。

    9)设备可以64通道为步进可扩充到2048组测试通道。

     

    英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪技术规格:

    1)256路二维集成电路专用V-I端口动态阻抗测试通道;

    2)128路二维电路板专用V-I端口动态阻抗测试通道;

    3)128路V-I-F三维立体动态阻抗测试通道;

    4)4路探笔测试,4路V-T/V-T-F测试通道;

    5)显示图形模式:V-I, V-T, V-I-F, V-T-F;

    6)可定制各种封装通用集成电路测试治具;

    7)可定制各种电路板I/O接口测试治具;

    8)系统提供测试自定义报告输出;中英文专用测试操作软件;

     

    测试原理(V-I曲线测试):

    对元器件的每个管脚施加一个安全的低功率的扫描驱动信号,产生一个阻抗特征图,以备对比和存储。

    被测器件和数据库中标准动态阻抗图相比对,阻抗图的差异大小即可判断元件的好坏和可用性。

    测试信号可设定的参数包括: 电压、波形、源电阻、频率。可根据需要进行调整以便得到准确的信息。

     

    集成电路测试操作如此简单:

    1.从数据库选择要测试的集成电路型号.

    2.将集成电路插入测试座.

    3.执行测试

    4.得到PASS或FAIL的测试结果.

     

    不需要电子专业知识.

    适用于所有集成电路/封装件.及各种类型电路板.

    灵活、好安装、宜操作.

    测试结果直接: PASS或FAIL.

    软件可设定各种测试条件.

    可提供完整的集成电路自定义测试分析报告.

     

    英国ABI-AT256  pro2全品种集成电路测试仪适合不同封装形式的元件:

    -双列插脚(DIL)

    -小型封装集成集成电路(SOIC)

    -小型封装(SSOP, TSOP)

    -塑料无引线芯片载体封装(PLCC)

    -四方扁平封装(TQFP, PQFP, LQFP)

    -球门阵列封装(BGA)

    注意: AT256 A4 pro2不受限于只能测试电子集成电路, 也可用于整个电路板的测试。

     

    三维立体V-I-F动态阻抗端口测试

    英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪

    AT256 A4 pro2测试报告

    英国abi_AT256 A4 pro2集成电路测试仪

     

    北京金三航科技发展有限公司(英国ABI技术服务中心)提供:

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